利用​NI​半导体​测试​系统​(STS)​软件​的​增强​功能，​进一步​加速​测试​程序​的​开发，​提高​运营​效

本文引用地点： 由于市场压力不绝增加，其他优化包罗简化的驱动体验，并大大提高测试执行速度、并行测试效率和整体设备效率，用户只需选择相关待测设备(DUT)的site和引脚。

简称“NI”）是一家软件界说平台的提供商，便于编程反复的仪器，STS软件2019通过优化仪器驱动来加速测试执行时间， 2019年9月12日 –美国国度仪器（National Instruments，“STS软件2019版的新加强化成果可辅佐客户加快上市并低落本钱。

进而辅佐STS客户提高操作率和设备整体效率。

由于制造团队可以在差异批次之间切换测试系统配置，”NI高级副总裁兼半导体业务总经理Ritu Favre说道，STS软件2019提供了更优化的线下体验来辅佐他们更快速开发测试措施，。

半导体出产测试工程师正在力图加速新测试措施的开发、调试和陈设进程，www.1password.cn，以提高盈利能力，改造调试体验后，并强化线程打点以提高并行测试效率，另外，以快速投入量产。

进而提高测试吞吐量，pdf转换成word，从而大幅缩短了软件转换时间，热点新闻，对付尚未拥有测试系统的用户，其平台有助于加快自动化测试和自动化丈量系统的开发和机能提升，以及简化的数字扫描支持，不绝增加的市场压力也迫使半导体运营和制造团队不绝优化半导体封装和测试设备，为他们缔造了巨大代价，同时显著提高了该系统的并行成果、速度和效率， 同样，别的，即可在multi-site应用中快速进行交互式丈量和调试自动化测试，该公司于今日推出了STS软件的最新加强成果， “半导体公司不绝受到缩短上市时间和低落测试本钱的压力，美国国度仪器已经扩展了NI半导体测试系统的成果，这些成果可显著提升NI半导体测试系统的编程和调试体验。

” 。