NI将半导体ATE数字功能引入PXI平台

简称NI) 作为致力于辅佐工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供给商，如多站点和多仪器并行收发可实现产物从开发到投产的无缝对接;shmoo图和交互式引脚视图等东西，fA级源丈量单位以及TestStand半导体模块，开发面向将来的测试设备。

具有高吞吐量数据传输能力。

大幅低落测试本钱，按照需求任意地增加或淘汰所需的器件，National Instruments，并且可使用特性阐明尝试室台上的尺度墙插式电源供电，用户可以操作先进的PXI仪器来低落射频和模拟IC的测试本钱并提高吞吐量， 用户可充实操作PXI的开放性和STS， NI半导体测试副总裁Ron Wolfe暗示， PXI已被证明是一个精彩的软硬件集成解决方案， 很多数导体公司正基于NI平台和生态系统来构建智能化的测试系统， STS配置内外的PXI硬件占地空间小，他们就可以在满足先进器件的本钱和测试要求的同时，从而缩短产物上市时间，NI基于图形向量的数字通道板卡和数字图形向量编辑器是重要的创新产物，因此它的问世无疑是为STS锦上添花。

在单个子系统中具有独立的源、捕捉引擎、电压/电流参数函数以及高达256个同步数字引脚，www.heyeme.com， NI(美国国度仪器公司，今日公布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器，同时具有子纳秒级同步以及集成的按时和触发， ，。

全新的数字模式编辑器软件具有以下成果：器件引脚映射图、范例和图形向量编辑情况，可淘汰数据关联所需的事情， 使用沟通PXI硬件、TestStand、LabVIEW和数字模式编辑器软件进行特性阐明和产物测试，Wolfe增补道， NI PXIe-6570数字模式仪器以很是实惠的价值为无线设备供给链和物联网设备常用IC提供了所需的测试成果，轻松将其扩展到其他产物的测试上，缩短上市时间，以满足测试配置所需的器件引脚和测试点数， 假如出产车间的PXI具备这个成果，可更高效地调试和优化测试，重庆新闻，它具有100 MVector/秒的图形向量执行速率，可同时合用于产线车间和特性阐明尝试室，www.yzmcyy.com，满足将来RF和殽杂信号测试的各类挑战，有助于更快速地制定测试打算;各类内置东西，用户可以操作LabVIEW和TestStand软件情况的高效出产力， 本文引用地点： 传统ATE的测试笼罩率凡是无法满足最新半导体设备的要求，以及一个由相助同伴、附加IP、应用工程师团队构成的活泼生态系统， 它们回收PCI Express第三代总线接口， PXI数字模式仪器为半导体工程师提供所有高端数字测试平台才具备的数字机能，通过将半导体行业成熟的数字测试模式引入到基于PXI开放平台的半导体测试系统(STS)中， 该产物将射频集成电路、电源打点IC、微机电(MEMS)系统设备以及殽杂信号IC的制造商从传统半导体自动化测试设备(ATE)的关闭式架构中解放出来， 不只仅是出产合用的STS系列、1 GHz带宽矢量信号收发仪。

这些系统受益于笼罩了直流到毫米波的600多款PXI产物，可辅佐器件制造商和测试室低落测试本钱以及优化测试措施开发，并使用成果强大且人性化的编辑器和调试器进行优化，可节省厂房空间。